Россия создаёт национальный стандарт для микроэлектронных измерений

Представлена инновационная разработка – эталонный комплекс для точного измерения параметров полупроводниковых пластин. Проект был представлен на заседании рабочей группы при Минпромторге. Мероприятие посвящено вопросам стандартизации в электронной промышленности.

Ключевые компоненты системы:

1. Прецизионная зондовая измерительная платформа
2. Высокоточный векторный анализатор цепей
3. Комплект калибровочных зондов российского производства
4. Специализированное вспомогательное оборудование

Особенность проекта:

1. Полная импортозамещающая технологическая цепочка
2. Использование отечественных компонентов и материалов
3. Соответствие международным требованиям к точности

Создание единого стандарта измерений критически важно для развития микроэлектроники. Это позволит обеспечить сопоставимость результатов на всех этапах – от разработки до массового производства электронных компонентов.

Новый эталон станет основой для создания единого метрологического пространства в отечественной электронной промышленности. Внедрение системы запланировано на 2025-2026 годы.